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LED、Micro LED 和 VCSEL 測量係統

文章出處:新聞資訊 責任編輯:开云体育网页登录 發表時間:2024-09-24 14:46:17

      LED 技術不斷進步。 LED 的尺寸不斷縮小,同時效率不斷提高。最新的發展包括所謂的 VCSEL 和 micro-LED (µ-LED) 器件。 microLED是miniLED的進一步發展,或者說小型化的繼續。這是一種所謂的平板顯示技術,由微型 LED 陣列組成。

LED的測量

      Micro LED(也稱為 µLED 或 microLED)的優點包括:

        • 高亮度:Micro LED 比傳(chuan) 統 LED 具有更高的亮度。

        • 低功耗:Micro LED 的功耗比傳(chuan) 統 LED 低,使其運行成本高效。

        • 更長的使用壽命:Micro LED 的使用壽命比傳(chuan) 統 LED 更長,這意味著它們(men) 可以使用更長的時間而無需更換。

        • 尺寸更小:Micro LED 比傳(chuan) 統 LED 小得多(通常隻有幾微米 (μm)),因此可以在空間有限的應用中使用。

        • 更高的對比度:它們(men) 提供像素級光控製和高對比度。


      VCSEL 是一種“垂直腔表麵發射激光器”二極管。他們之所以有吸引力,是因為:

        • 成本低並且可以直接在晶圓上進行測試,這是一個(ge) 很大的進步。

        • 尺寸相對較小,但比 µLED 大。

        • 低功耗和高功率輸出是可能的。

        • 由於(yu) VCSEL 結構更簡單且無需劈裂,因此比邊緣發射激光器更可靠。

        • 相對於(yu) 成本而言,光束質量相當高,因此可用於(yu) 多種應用,例如激光雷達等。


      這兩(liang) 種新技術都有其市場和應用。 Micro LED 用於(yu) 需要最小尺寸的地方。 VCSEL的優(you) 點是能夠產(chan) 生發散角非常窄的類似激光的光束,使其成為(wei) 光通信和傳(chuan) 感等應用的理想選擇。


      Micro LED 和 VCSEL 光學測量技術

      從(cong) 計量學的角度來看,現代精確光學測量係統必須遵循這一發展,同時使測量變得簡單而準確。被測量包括輻射功率或光通量、分箱顏色坐標、顯色指數 (CRI)、TM-30、CIE-170、光譜分布等。


      適合的是積分時間為(wei) 2 µs 的高端陣列光譜儀(yi) ,需要不同的光學帶寬(通常為(wei) 0.8 nm 至 2 nm)和光譜波長範圍(200 nm 至 2150 nm)以及 單獨的積分球(定製解決(jue) 方案)、成像光學器件例如我們(men) 的LDM-C50 成像光譜儀(yi) 或低成本質量控製傳(chuan) 感器和波形分析儀(yi) 。一般來說,不僅(jin) 檢測技術必須完全適合 micro LED 和 VCSEL 測量任務,特別是入口光學器件必須根據特定應用進行定製。例如,積分球端口可能需要特定的設計來解決(jue) 幾何邊界條件,或者需要針對光源的發射視場優(you) 化擋板設計。


      為(wei) 了對 microLED 和 VCSEL 等技術進行精確的光學測量,需要一個(ge) 能夠實現準確性的合作夥(huo) 伴。作為(wei) 全球知名的SSL 測量技術專(zhuan) 家,我們(men) 能夠表征和校正我們(men) 的分光輻射計、光度計和輻射計,以實現最高精度,並提供個(ge) 性化的完美測量解決(jue) 方案。我們(men) 還了解 CIE S025 等可用標準,因此我們(men) 提供滿足這些標準的測量解決(jue) 方案。


      可追溯的 MicroLED 和 VCSEL 測量和校準

      ISO 17025 校準和低測量不確定性是我們(men) 針對不同指標的產(chan) 品係列提供的高質量測量係統的關(guan) 鍵。我們(men) 的內(nei) 部 ISO 17025 認證校準實驗室提供最高的質量標準。


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