LED 光源和燈具的良好熱設計對於(yu) 確保 LED 在光輸出和使用壽命方麵實現最佳性能至關(guan) 重要。 LED 不會(hui) 輻射大量的熱量，但在 LED 的半導體(ti) 結內(nei) 會(hui) 產(chan) 生熱量，必須通過對流和傳(chuan) 導來消散。 LED 的內(nei) 量子效率隨著結溫的升高而降低。結溫隨著通過它的電流的增加而增加。因此，工作結溫由驅動電流、環境溫度和散熱器設計的效率決(jue) 定。
照明製造商通過測量光通量、光譜功率分布、色溫和顯色性等光度和色度參數來確保其產(chan) 品的質量。
這需要在測量過程中精確控製測試設備的驅動電流和溫度穩定性，如 CIE S 025/E:2015 [1] 中詳述。大多數 LED 照明產(chan) 品都以恒定電流模式（連續波，CW）或某種形式的 PWM、脈寬調製電流模式（準 CW）運行。然而，在指定或“分級”其產(chan) 品時，LED 芯片製造商會(hui) 在單脈衝(chong) 模式下測試其設備。因此，測試係統可以通過允許 LED 在連續波和脈衝(chong) 模式下運行而受益匪淺，從(cong) 而可以將器件性能與(yu) 製造商的聲明進行直接比較。
TP121 -TH LED 測試係統 為(wei) SMD 和板載 LED 器件提供全自動測試例程。該係統的光度、色度、熱學和電學測量參數均符合最新規範和法規，包括 CIE S 025、IES LM-79-08 [2] 和 DIN 5032 第 9 部分 [3]。
• [1] CIE S 025/E:2015 LED燈、LED燈具和LED模塊的測試方法
• [2] IES LM-79-08 固態照明產(chan) 品的電氣和光度測量
• [3] DIN 5032-9 光度測量 - 第 9 部分：非相幹發射半導體(ti) 光源的光度測量
• BTS256-LED Tester 緊湊型 BiTec 光譜輻射計
• BTS256-EF 高精度閃爍計和通用照明光譜照度計
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